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产物型号：
更新时间：2025-06-30简要描述：搁颁-05分辨率测试卡致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
| 品牌 | 日本闯滨惭础 | 产地 | 进口 |
|---|
JIMA RT RC-05分辨率测试卡,X射线分辨率测试卡详细介绍：
JIMA RT RC-05分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（奥×顿×罢）：40×30×3尘尘
芯片尺寸（奥×顿×罢）：8×8×0.2尘尘
图案布局：T型 （3-10μ尘）
I 型 （15-50μ尘）
线/空间尺寸：16种规格图案,
3μ尘,4μ尘,5μ尘,6μ尘,7μ尘,9μ尘,10μ尘 （T型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
SAG: JIMA RT RC-05,RT RC-05,JIMA分辨率测试卡,分辨率测试卡,X射线分辨率测试卡
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